針對材料件、電子元器件、電子組件、電子整機乃至電子系統的高可靠、長(cháng)壽命指標驗證的需求，本公司利用自身專(zhuān)家多年在軍工和民用領(lǐng)域多年開(kāi)展加速試驗技術(shù)研究取得的成果和技術(shù)服務(wù)積累的經(jīng)驗，可為用戶(hù)提供一套完善的裝備加速試驗與壽命/可靠性快速評價(jià)整體解決方案，提出了一套五位一體的加速試驗與快速評價(jià)模式——充分利用歷史數據評估和預測成套裝備/系統的可靠性/壽命趨勢、基于加速試驗技術(shù)驗證整機/部組件可靠性/壽命目標要求符合性、開(kāi)展板級電路與元器件壽命特征檢測深入查找產(chǎn)品內部缺陷、針對關(guān)鍵元器件和材料件（密封件）開(kāi)展加速退化試驗和檢測分析、可靠性/壽命綜合評價(jià)等五個(gè)方面為確定裝備長(cháng)壽命/高可靠性指標提供支撐。
同時(shí)，我們針對新研發(fā)的產(chǎn)品高可靠/長(cháng)壽命驗證可能存在的失敗風(fēng)險和帶來(lái)的經(jīng)濟、時(shí)間成本損失，可為客戶(hù)提供高可靠/長(cháng)壽命增長(cháng)和強化解決方案，在正式評價(jià)試驗前，采取可靠性強化試驗手段，幫助企業(yè)快速查找產(chǎn)品缺陷，協(xié)助采取改進(jìn)措施，增強產(chǎn)品耐環(huán)境能力和強度，降低產(chǎn)品失效概率和應力安全裕度，提高產(chǎn)品一次性通過(guò)高可靠/長(cháng)壽命驗證試驗的成功概率。
